泰勒粗糙度儀Surtronic S116測量參數(shù)

泰勒粗糙度儀Surtronic S116測量參數(shù)

SURTRONIC S116 粗糙度儀

一、S116標(biāo)準(zhǔn)配置:
顯示單元;112-1502標(biāo)準(zhǔn)測針;測針連接線;多刻線樣板;測針提升機(jī)構(gòu);USB接口充電器;使用手冊;USB通訊電纜;儀器箱

二、技術(shù)參數(shù)

數(shù)據(jù)顯示 ：

顯示屏每頁顯示7個(gè)測試結(jié)果，屏幕上可顯示輪廓圖（剖面圖）

可以打印測試結(jié)果和圖形

使用Talyprofile軟件可以連接電腦，分析測試結(jié)果

數(shù)據(jù)存儲：

儀器可以存儲100個(gè)測試數(shù)據(jù)和一個(gè)圖形

儀器支持U盤大4G，多可存儲39,000個(gè)圖形，每批可存儲10萬個(gè)測試結(jié)果，共70批數(shù)據(jù)。

使用Talyprofile軟件與電腦連接可以存儲無限數(shù)據(jù)。

電源：

充電器 ：USB接口5v 1A 110-240VAC 50/60Hz

充電時(shí)間：4小時(shí)

電池壽命：充電一次可以做2000次測試

待機(jī)時(shí)間：5000小時(shí)

由待機(jī)狀態(tài)到開機(jī)測試狀態(tài)，長時(shí)間不超過1秒I

自動關(guān)機(jī)：30秒– 6小時(shí)可以自行設(shè)置

三、技術(shù)指標(biāo)：

測量范圍：200 um 100 um 10 um 

分辨率：  100 nm 20 nm 10 nm 

底噪(Ra)：250 nm 150 nm 100 nm 

重復(fù)精度 (Ra) ：1%測試值+底噪

傳感器原：電感

測量力：150-300mg

測針針尖半徑：標(biāo)配5 μm (200 μin) 可選2μm(80μin)或10μm(400μin)

測試方式：滑動掃描

校準(zhǔn)：

自動軟件校準(zhǔn)    標(biāo)準(zhǔn)：ISO4287 

四、測試參數(shù)：

三個(gè)取樣長度：0.25mm、0.8mm、2.5mm

二個(gè)濾波器：2CR、Gaussian

評定長度：0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可選

大行程：17.5mm

測試速度：

測試速度：1mm/sec(0.04 in/sec)

回程速度：1.5mm/sec(0.06in/sec)

測試參數(shù)：

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007

ISO標(biāo)準(zhǔn)可以測量12個(gè)參數(shù)： Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max

ASME標(biāo)準(zhǔn)可以測量11個(gè)參數(shù)：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda

JIS標(biāo)準(zhǔn)可以測量14個(gè)參數(shù)：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc

其他 ：R3z (Daimler Benz)

測試單位：um/uin 

五、可選附件

測試平臺：

00級大理石平板：400X250X70mm

有效高度：280mm。

可調(diào)Y軸V型鐵

可調(diào)范圍：±5mm

V型鐵長度100mm 

SURTRONIC S116比SURTRONIC 25有如下改進(jìn)：

1、電池由堿性9V改為鋰電充電電池；

2、顯示屏為觸摸屏；

3、可以顯示測試圖形；

4、SURTRONIC 25只能測試10個(gè)參數(shù)，S116在不同標(biāo)準(zhǔn)下可以測量12、11、14個(gè)參數(shù)（見技術(shù)參數(shù)）；

5、原來SURTRONIC 25使用電位器校準(zhǔn)測試結(jié)果，現(xiàn)在改為自動軟件校準(zhǔn)。方便使用；

6、顯示屏顯示的結(jié)果（數(shù)據(jù)和圖形）可以旋轉(zhuǎn)，可以方便的從四個(gè)方向觀察測試結(jié)果；

7、儀器底部為V形，測試軸類部件方便可靠；

8、測試數(shù)據(jù)存儲增加了存儲圖形功能；

9、可以使用U盤直接存儲，一個(gè)4G容量U盤可存儲3.9萬個(gè)圖形，數(shù)據(jù)可以存儲70批次，每批次為10萬個(gè)測試數(shù)據(jù)。