USM35X通用超聲波探傷儀標(biāo)準(zhǔn)型

簡要描述：USM35X通用超聲波探傷儀標(biāo)準(zhǔn)型
是一種輕巧緊湊的超聲波檢測儀，特別適用于?定位和評估材料缺陷，?測量壁厚，?保存和記錄測試結(jié)果。其頻率范圍為0.5至20 MHz，Z大校準(zhǔn)范圍為10 m（鋼）， USM 35X設(shè)計用于大型工件和高分辨率測量。

產(chǎn)品型號：
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
更新時間：2025-03-28
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USM35X通用超聲波探傷儀標(biāo)準(zhǔn)型

是一種輕巧緊湊的超聲波檢測儀，特別適用于•定位和評估材料缺陷，•測量壁厚，•保存和記錄測試結(jié)果。其頻率范圍為0.5至20 MHz，zui大校準(zhǔn)范圍為10 m（鋼）， USM 35X設(shè)計用于大型工件和高分辨率測量。

USM 35X有幾種版本可供選擇，適用于不同的應(yīng)用：
•USM 35X
通用超聲波測試應(yīng)用的標(biāo)準(zhǔn)版本。
•USM 35X DAC
多個DAC曲線和時間校正的增益使得能夠根據(jù)幾乎所有的測試規(guī)范進(jìn)行面向場的回波振幅評估。
•USM 35X S
DGS評估模式除了多個DAC曲線和TCG之外。對于所有窄帶單元件探針存儲DGS曲線; 以DAC曲線或等效反射器尺寸（ERS）為單位的dB進(jìn)行幅度評估。
•數(shù)據(jù)記錄器選項
此選項適用于所有USM 35X版本，用于記錄和記錄厚度讀數(shù)。

新讀數(shù)：
可以顯示三個新的附加讀數(shù)，用于與門進(jìn)行的測量：

使用DAC / TCG（在USM 35X DAC和USM 35X S中）與參考增益的dB差值
DGS參考增益（USM 35X S）
根據(jù)JIS Z3060（USM 35X DAC和USM 35X S）中的缺陷分類

其他優(yōu)點(diǎn)：
我們還在電池概念中實(shí)施了計算機(jī)行業(yè)的創(chuàng)新，使您的日常工作更輕松：可充電式鋰離子電池組可讓您進(jìn)行至少14小時的檢查。只需將電源組件/電池充電器連接到USM 35X，即可在儀器內(nèi)部輕松進(jìn)行充電。如果電池組被排空，并且沒有A / C電源連接可用，也可以插入6個正常的C電池。

惡劣的野外和工業(yè)環(huán)境

擴(kuò)展溫度范圍為0°至60°C（特殊要求時為-10°C）
重量只有2.2公斤
在實(shí)際測試條件下延長電池壽命至14小時
直觀的工具來幫助分析
Color-Leg功能顯示關(guān)于角度束檢測的彩色腿上的編碼信息。
2個新的顯示克拉（指向測量的彩色三角形）
每個門的位置）。
指向門線的一克拉指示飛行測量的時間
指向考慮的門。
另一個克拉指向上
所考慮的門的振幅測量點(diǎn)。

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